Utilizări și caracteristici ale microscopiei electronice de transmisieUtilizări și caracteristici ale microscopiei electronice de transmisie
Un microscop electronic cu transmisie (TEM) este un microscop de înaltă rezoluție utilizat pentru a observa structura internă a unei probe. Utilizează un fascicul de electroni pentru a pătrunde într-o probă și a forma o imagine proiectată, care este apoi interpretată și analizată pentru a dezvălui microstructura eșantionului.
1. Sursa de electroni
TEM folosește un fascicul de electroni mai degrabă decât un fascicul de lumină. Microscopul electronic cu transmisie Seria Talos echipat de Jifeng Electronics MA Lab folosește un pistol electronic cu luminozitate ultra-înaltă, iar microscopul electronic cu transmisie cu aberație sferică HF5000 folosește un pistol cu electroni cu câmp rece.
2.Sistem de vid
Pentru a evita interacțiunea fasciculului de electroni cu gazul înainte de a călători prin eșantion, întregul microscop trebuie menținut în condiții de vid înalt.
3. Proba de transmisie
Proba trebuie să fie transparentă, ceea ce înseamnă că fasciculul de electroni poate pătrunde în ea, interacționa cu ea și poate forma o imagine proiectată. În mod obișnuit, grosimea probei este în intervalul de la nanometri până la sub-micron. Quarterly este echipat cu zeci de FIB din seria Helios 5 pentru prepararea probelor TEM ultra-subțiri de înaltă calitate.
4. Sistemul de transmisie a electronilor
Fasciculul de electroni este focalizat printr-un sistem de transmisie. Aceste lentile sunt asemănătoare cu cele utilizate în microscoapele optice, dar deoarece lungimile de undă ale electronilor sunt mult mai scurte decât undele luminoase, proiectarea și fabricarea lentilelor este mai solicitantă.
5. Plan de imagine
După trecerea prin eșantion, fasciculul de electroni intră într-un plan imagine. În acest plan, informațiile din fasciculul de electroni sunt convertite într-o imagine și captate de un detector.
6. Detector
Cele mai comune detectoare sunt ecranele cu fosfor, camerele CCD (Charge Coupled Device) sau camerele CMOS (Complementary Metal Oxide Semiconductor). Când un fascicul de electroni interacționează cu un ecran de fosfor în planul imaginii, este produsă lumină vizibilă, rezultând o imagine proiectată a probei, care este adesea folosită pentru a găsi proba. Deoarece ecranul cu fosfor trebuie utilizat într-o cameră întunecată, care nu este ușor de utilizat, producătorii instalează în prezent o cameră pe partea laterală a ecranului cu fosfor, astfel încât operatorul TEM să poată observa monitorul într-un mediu deschis pentru a găsi mostre. , înclinați axa benzii și alte operațiuni, această îmbunătățire discretă stă la baza realizării separării om-mașină.
7. Formarea imaginii
Pe măsură ce fasciculul de electroni trece prin eșantion, acesta interacționează cu structurile atomice și cristaline din eșantion, împrăștiind și absorbind. Pe baza acestor interacțiuni, intensitatea fasciculului de electroni va forma imagini în planul imaginii. Aceste imagini sunt imagini proiectate bidimensionale, dar structura internă a eșantionului este adesea tridimensională, așa că ar trebui să se acorde o atenție deosebită acestui lucru atunci când se rezolvă informații despre detaliile interne ale eșantionului.
8. Analiză și Interpretare
Prin observarea și analiza imaginilor, cercetătorii pot înțelege structura cristalină, parametrii rețelei, defectele cristalului, aranjamentul atomic și alte informații microstructurale ale probei. Jifeng are o echipă profesională de analiză a materialelor, care poate oferi clienților soluții complete de analiză a procesului și rapoarte profesionale de analiză a materialelor.
