Caracteristicile microscoapelor cu sondă de scanare
Microscop cu sondă de scanare este un termen general pentru diferite microscoape cu sondă noi (microscop cu forță atomică, microscop cu forță electrostatică, microscop cu forță magnetică, microscop cu scanare cu conductivitate ionică, microscop electrochimic cu scanare etc.) dezvoltate pe baza microscopului cu scanare tunel. Este un instrument de analiză a suprafeței dezvoltat la nivel internațional în ultimii ani.
Microscopul cu sondă de scanare este al treilea tip de microscop care observă structurile materialelor la scară atomică, după microscopia cu ioni de câmp și microscopia electronică cu transmisie de{0}}înaltă rezoluție. Luând ca exemplu microscopul de scanare cu tunel (STM), rezoluția sa laterală este de 0,1 ~ 0,2 nm, iar rezoluția longitudinală a adâncimii este de 0,01 nm. O astfel de rezoluție poate observa în mod clar atomii sau moleculele individuale distribuite pe suprafața probei. Între timp, microscoapele cu sondă de scanare pot fi utilizate și pentru observare și cercetare în aer, alte gaze sau medii lichide.
Microscoapele cu sondă de scanare au caracteristici precum rezoluția atomică, transportul atomic și nanomicrofabricarea. Cu toate acestea, datorită principiilor de lucru diferite ale diferitelor microscoape de scanare, informațiile de suprafață a probei reflectate de rezultatele lor sunt foarte diferite. Microscopul de scanare cu tunel măsoară informațiile despre distribuția electronilor pe suprafața probei, cu rezoluție la nivel atomic, dar încă neputând obține structura adevărată a probei. Microscopia atomică detectează informațiile de interacțiune dintre atomi, obținând astfel informațiile de aranjare a distribuției atomice pe suprafața probei, care este adevărata structură a probei. Pe de altă parte, microscopia cu forță atomică nu poate măsura informațiile de stare electronică care pot fi comparate cu teorie, așa că ambele au propriile lor puncte forte și puncte slabe.
