Microscopia electronică cu scanare și microscopia metalografică „merg împreună, dar în moduri diferite”
Microscoapele electronice cu scanare și microscoapele metalografice sunt ambele instrumente optice. Mulți oameni le place să folosească un microscop metalografic ca microscop electronic de scanare, dar există diferențe mari între ei. Utilizarea greșită nu va face decât să pună mai multă sarcină echipamentului și să accelereze consumul microscopului metalografic.
1. În primul rând, principiile sunt diferite: microscopul metalografic folosește principiul imaginii optice geometrice pentru a efectua imagini, în timp ce microscopul electronic cu scanare folosește diverse semnale fizice excitate de fasciculele de electroni fin focalizate atunci când scanează suprafața probei pentru a modula imagistica. Suprafața probei este bombardată cu fascicule de electroni de înaltă energie, iar pe suprafața probei sunt excitate diferite semnale fizice. Diferite detectoare de semnal sunt utilizate pentru a recepționa semnalele fizice și apoi le convertesc în informații despre imagine.
2. În al doilea rând, sursele de lumină sunt diferite: microscopul metalografic folosește lumina vizibilă ca sursă de lumină pentru imagistica, în timp ce microscopul electronic cu scanare folosește fascicule de electroni ca sursă de lumină pentru imagistica.
3. Rezoluții diferite: microscoapele metalurgice sunt supuse interferențelor și difracției luminii vizibile, iar rezoluția poate fi limitată doar la 0.2-0.5um. Deoarece microscopul electronic de scanare folosește fascicule de electroni ca sursă de lumină, rezoluția acestuia poate ajunge între 1-3nm. Prin urmare, observarea țesuturilor sub microscopul metalografic este o analiză la nivel de microni, în timp ce observarea țesuturilor sub microscopul electronic de scanare este o analiză la nivel nano. Informațiile eșantionului obținute de microscopul electronic cu scanare sunt mai bogate. .
4. Adâncimi diferite de câmp: în general, adâncimea de câmp a unui microscop metalografic este între 2-3um, deci are cerințe extrem de ridicate pentru netezimea suprafeței probei, astfel încât procesul de pregătire a probei este relativ complicat. Adâncimea de câmp a unui microscop electronic cu scanare este de sute de ori mai mare decât a unui microscop metalografic. Cu toate acestea, datorită limitărilor principiului său de imagistică, suprafața probei trebuie să fie conductivă, deci suprafața probei trebuie să fie conductivă.
În comparație cu microscoapele metalografice, microscoapele electronice cu scanare au o gamă largă de mărire reglabilă, rezoluție mare a imaginii, adâncime mare de câmp, imagini tridimensionale bogate și pot obține informații mai bogate despre eșantion. Aplicațiile lor sunt mai profunde și mai extinse decât microscoapele metalografice.
