Caracteristici ale microscoapelor cu sondă de scanare
Microscopia cu sondă de scanare este al treilea microscop pentru observarea structurii materiei la scară atomică după microscopia cu ioni de câmp și microscopia electronică cu transmisie de înaltă rezoluție. Luând ca exemplu microscopul de scanare tunel (STM), rezoluția sa laterală este de 0,1~0,2nm, iar rezoluția verticală a adâncimii este de 0,01nm. O astfel de rezoluție poate observa în mod clar atomi individuali sau molecule distribuite pe suprafața probei. În același timp, microscopul cu sondă de scanare poate efectua și cercetări de observație în aer, alte gaze sau medii lichide.
Microscoapele cu sondă de scanare au caracteristicile rezoluției atomice, transportului atomic și nano-microprocesare. Cu toate acestea, datorită principiilor diferite de lucru ale diferitelor microscoape de scanare în detaliu, informațiile de pe suprafața probei reflectate de rezultatele obținute de acestea sunt foarte diferite. Microscopia de scanare cu tunel măsoară informațiile de distribuție a stațiilor de electroni pe suprafața probei, care are rezoluție la nivel atomic, dar încă nu poate obține structura adevărată a probei. Microscopul atomic detectează informațiile de interacțiune dintre atomi, astfel încât se pot obține informațiile de aranjare a distribuției atomice pe suprafața probei, adică structura reală a probei. Dar, pe de altă parte, microscopul cu forță atomică nu poate măsura informațiile de stare electronică care pot fi comparate cu teoria, așa că cele două au propriile avantaje și dezavantaje.
