Care sunt cele două componente principale ale forței atomice detectate de microscopul cu forță atomică?
Există diverse forțe între sonda AFM și atomii de suprafață ai probei, inclusiv forța van der Waals, forța de respingere, forța electrostatică, forța de deformare, forța magnetică, forța chimică etc. Când se folosește microscopul cu forță atomică, influența forța van der Waals și forța de respingere vor fi eliminate; în plus, pe lângă cele două forțe de mai sus, celelalte forțe în sine sunt relativ mici.
Prin urmare, forța atomică detectată de microscopul cu forță atomică este compusă în principal din forța van der Waals și forța de respingere. Printre acestea, forța van der Waals este atracția, iar esența forței de repulsie este interacțiunea dintre atomi și norii de electroni, care este un efect cuantic în esență.
