Focalizare profundă pentru microscoape cu imersie și STED
Focalizarea profundă a obiectivelor NA înalte produce o PSF (funcție de răspândire punct) mai mică, care este esențială pentru sistemele de microscopie de înaltă rezoluție. În multe alte sisteme de microscop, cum ar fi microscoapele cu imersiune, se folosește o lamelă pentru a separa lichidul de imersie de probă. Acest lucru poate distorsiona PSF la planul focal. Demonstrăm că PSF asimetric este mai alungit în spatele lamei. În plus, microscopia STED (Stimulated Emission Depletion), care este utilizată pe scară largă cu rezoluții de zeci de nanometri, consumă un PSF toroidal. Urmând abordarea propusă de P.Török și PRT Monro, modelăm focalizarea profundă a unui fascicul Gauss-Raggler. Demonstrează cum se generează un PSF circular.
Focalizare profundă cu microscopie cu imersie NA ridicată
În VirtualLab Fusion, influența interfeței de acoperiș asupra PSF poate fi analizată direct. Distorsiunea focală din spatele lamei este demonstrată și analizată într-un mod complet vectorial.
Focalizarea fasciculelor Gaussian-Laguerre în microscopul STED
Sa demonstrat că focalizarea fasciculelor Gaussian-Laguerre de ordin înalt produce un PSF în formă de inel. Dimensiunea PSF inelară depinde, printre alte variabile, de ordinea particulară a fasciculului.
