Introducere scurtă a scanului sondei caracteristici ale microscopului
Microscopul de sondă de scanare (SPM) este un termen general pentru microscopul de tunelare de scanare și diverse microscopuri de sondă noi dezvoltate pe baza microscopului de tunelare de scanare (cum ar fi microscopie cu forță atomică (AFM), microscopie cu forță laser (LFM), microscopie cu forță magnetică (MFM), etc.). Este un instrument de analiză de suprafață dezvoltat la nivel internațional în ultimii ani. Este un produs de înaltă tehnologie care integrează lumina, mașina și energia electrică prin aplicarea cuprinzătoare a realizărilor științifice și tehnologice moderne, cum ar fi tehnologia optoelectronică, tehnologia cu laser, tehnologia slabă de detectare a semnalului, proiectarea mecanică de precizie și procesarea, tehnologia de control automat, tehnologia de procesare a semnalului digital, tehnologia optică aplicată, achiziția de înaltă viteză a computerului și tehnologia de control grafică de înaltă rezoluție. Acest nou tip de instrument microscopic are avantaje semnificative în comparație cu microscoapele anterioare și instrumentele analitice:
1. SPM are o rezoluție extrem de ridicată. Poate „vedea” cu ușurință atomii, ceea ce este dificil pentru microscopuri obișnuite sau chiar microscopuri electronice.
2. SPM obține imagini în timp real, de înaltă rezoluție ale suprafeței eșantionului care arată cu adevărat atomii. Spre deosebire de unele instrumente analitice care calculează structura de suprafață a unui eșantion prin metode indirecte sau de calcul.
3. Mediul de utilizare al SPM este relaxat. Microscopele electronice și alte instrumente au cerințe stricte pentru mediul de lucru, iar eșantioanele trebuie plasate în condiții de vid ridicate pentru testare. SPM poate funcționa în vid, precum și în atmosferă, temperatură scăzută, temperatura camerei, temperaturi ridicate și chiar în soluții. Prin urmare, SPM este potrivit pentru experimente științifice în diferite medii de lucru.
