Microscopia cu forță atomică cuplată cu tehnica microscopului optic inversat
Tehnologia de cuplare a microscopului optic inversat FlexAFM este disponibilă tuturor clienților interesați de capacitatea de a combina microscopia optică și microscopia cu forță atomică. Sistemul constă dintr-o etapă universală de eșantionare a microscopului optic inversat FlexAFM, un adaptor de probă specific microscopului pentru diferite microscoape (de exemplu, Zeiss sau Olympus) și optică de corecție a iluminării FlexAFM.
Principalele caracteristici ale microscopiei cu forță atomică cuplată cu tehnica microscopiei optice inversate sunt:
- Adaptoare de conectare pentru microscoape din seria Zeiss Axiovert/AxioObserver, Olympus IX2, Nikon Eclipse Ti și Leica DMI. Alte modele de microscoape optice inversate pot fi personalizate pentru a se potrivi modelului.
-Funcționare intuitivă datorită faptului că câmpul optic de vedere al AFI și microscopul optic inversat au aceeași orientare.
-Alinierea bratului cantilever in campul optic de vedere se realizeaza prin miscarea independenta a capului de scanare AFM in directiile X si Y, cu axa de scanare AFM si axa imaginii optice avand o distanta paralela de 1mm.
-Tehnologia cipului de aliniere elimină necesitatea de a efectua o nouă aliniere a brațului cantilever în imaginea optică după înlocuirea brațului cantilever.
- Poziționarea eșantionului are o cursă de 12 mm în direcțiile X și Y.
- Suporturile de probe pot fi adaptate la foile de suport pentru microscop și la vasele Petri.
-Posibilitatea de a utiliza lentile cu deschidere numerică mare în combinație cu vase Petri inferioare lamei.
Unitate de microscop optic inversat: easyScan 2FlexAFM AFM este integrat într-un microscop optic inversat Zeiss în timp ce se sprijină pe o etapă activă de amortizare a vibrațiilor Accurion.
